顆粒是組成材料的基本單元，影響材料的性能的不僅是顆粒的化學(xué)組成，顆粒的大小與顆粒的形態(tài)對(duì)材料的性能影響巨大，因此顆粒粒度與形態(tài)的檢測(cè)越來(lái)越受到各行業(yè)的重視。
 

　　目前檢測(cè)顆粒大小和顆粒形態(tài)的方法有多種，激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度亦、顆粒圖像分析儀技術(shù)是常用的技術(shù)。
 

　　由光學(xué)顯微鏡(放大倍數(shù)大1600倍)、CCD攝像機(jī)和圖像采集卡組成，并需連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)使用。該系統(tǒng)將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代化的電子技術(shù)、圖像處理技術(shù)相結(jié)合，使用攝像機(jī)將顯微鏡放大的顆粒圖像拍攝下來(lái)，通過(guò)圖像采集卡將圖像傳輸?shù)诫娔X中，計(jì)算機(jī)自動(dòng)地對(duì)顆粒的形貌特征進(jìn)行分析，能直觀、的觀察被測(cè)顆粒的形貌，并可打印出顆粒直觀圖形。
 

　　激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度儀，只能檢測(cè)顆粒大小，不能檢測(cè)顆粒形狀;顆粒圖像分析技術(shù)具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)試范圍廣，可靠，直觀可視，適用于各種固體顆粒。
 

　　可以廣泛應(yīng)用于建材、化工、石油、金屬與非金屬、環(huán)保、輕工、等眾多領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室和在線顆粒粒度與形狀分析。
 

　　顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
 

　　該系統(tǒng)通過(guò)的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦，通過(guò)的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。